Journal

Comparing finite state machine test coverage criteria

Simao, A., Petrenko, A. and Maldonado, J. C. "Comparing finite state machine test coverage criteria" IET Software, 3 (2) 2009 : 91-105
[Abstract]

  • Claude Chapdelaine, spécialiste en #ergonomiecognitive et conseillère senior au CRIM, parle d'#IA et de… https://t.co/qSKiDRhvqz
  • Facilis RT @facilis_inc: Nous sommes très fiers de s'associer avec le @CRIM_ca afin d'intégrer des fonctions d'#intelligenceartificielle à nos appl…