Séminaire R-D : Fault detection in timed FSM with timeouts by sat-solving

Séminaire R-D : Fault detection in timed FSM with timeouts by sat-solving
October 24, 2019 11:00
CRIM (405, avenue Ogilvy, bureau 101, Montréal)

Présentation en anglais

Détection des défauts dans les FSM temporisés par résolution de contraintes SAT

CONFÉRENCIER

Omer Nguena Timo, chercheur en modélisation, test et vérification logiciel, CRIM.


Fault Detection in Timed FSM with Timeouts by SAT-Solving

SPEAKER

Omer Nguena Timo, Researcher in Software Modeling, Testing and Verification, CRIM.

ABSTRACT

Faults in safety critical real-time systems are not only logical, but they can correspond to violations of timing constraints. We present a fault detection approach for systems represented with Timed FSM with Timeouts. In the approach we use a nondeterministic TFSM-T called a mutation machine to represent a domain of possible implementations of a TFSM-T specification and we propose a method of generating complete test suites.

BIOGRAPHIE - BIOGRAPHY


Les séminaires scientifiques du CRIM, gratuits et ouverts à tous, sont donnés par des experts de renommée internationale, des collaborateurs universitaires, le personnel de R-D et les étudiants du CRIM. Au programme, des présentations conviviales sur les dernières avancées scientifiques et technologiques.


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