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Comparing finite state machine test coverage criteria

Simao, A., Petrenko, A. and Maldonado, J. C. "Comparing finite state machine test coverage criteria" IET Software, 3 (2) 2009 : 91-105
[Abstract]

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  • TechnoMontreal RT @TechnoMontreal: Le ministre de @economie_quebec @MinFitzgibbon sera présent lors de l'événement Futur des technologies, pour soutenir l…