Journal

Fault Coverage-Driven Incremental Test Generation

Simao, A. and Petrenko, A. "Fault Coverage-Driven Incremental Test Generation" Computer Journal [Advance Access], 0 (0)
[Abstract]

  • @cefrio @ENCQOR_Qc Le CRIM sera au rendez-vous!
  • CEFRIO RT @cefrio: Surveillez le fil @ENCQOR_Qc le 22 juin: une belle annonce concernant l’initiative #5G #ENCQOR vous y attends! Rendez-vous dema…