Technical report

Incremental Test Generation Guided by Fault Coverage

Simao, A., Petrenko, A. Incremental Test Generation Guided by Fault Coverage. Montréal, CRIM, 2009. 29 p. . [CRIM-09/03-01]

  • @cefrio @ENCQOR_Qc Le CRIM sera au rendez-vous!
  • CEFRIO RT @cefrio: Surveillez le fil @ENCQOR_Qc le 22 juin: une belle annonce concernant l’initiative #5G #ENCQOR vous y attends! Rendez-vous dema…