Conference , Workshops Proceedings

Study of Trust at Device Level of the Internet of Things Architecture

Yekini, T. A., Jaafar, F. et Zavarsky, P. "Study of Trust at Device Level of the Internet of Things Architecture" dans proceedings of the 19th IEEE International Symposium on High Assurance Systems Engineering (HASE 2019). Hangzhou Zhejiang, China,  3 January 2019

  • Présentation de l’étude d’impact par Étienne Vignola-Gagné de @ScienceMetrix. Merci à ceux qui ont contribué, par l… https://t.co/wae5iGCYLY
  • Ouverture de l’assemblée par Guillaume Bazinet, VP Stratégie et développement d’affaires chez @FZXRecrutement et pr… https://t.co/nTyvVnT4CH